技术编号：6116604
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是一种芯片测试装置，特别是一种利用反馈信号判断 测试结果的芯片测试装置。背景技术当芯片制造完成后，会对芯片进行测试，用以判断芯片的运 作是否正确。然而如果要对芯片进行完整的测试，则需要的时间 非常多，因此芯片测试部分通常是对芯片输入一测试信号，并从 脚位的输出信号判断是否正确。图1为 一 现有的芯片测试装置的方块示意图。芯片测试装置ll内具有多个测试单元15，每一测试单 元15包括一触发器(flip-flop) 12以及一与门13。举例来说触发 器1...
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