技术编号:6116915
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光辐射测量,具体为一种发光二极管(LED) 荧光粉发射光谱测量方法。背景技术LED (白光LED)被广泛应用于照明领域,现有的白光LED — 般釆用蓝光LED加LED荧光粉的方法制成,荧光粉的质量直接影 响到照明LED产品的质量。因此,对LED荧光粉性能和品质的精 确测量与评定,对于控制照明LED产品质量十分重要。目前对LED荧光粉发射光谱的测量仍釆用传统普通荧光粉的测 量方法,比如在荧光灯用稀土三基色荧光粉的测量中,釆用253.7nm 的紫外低...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。