技术编号:6117036
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及仪表测量,尤其涉及。 背景技术各种物质表面的发射率(也称辐射率、黑度系数等)是表征物质表面辐射性能的物理量,是一项重要的热物性参数。在工业生产应用红外辐射测温时,被测对象都是非黑体。要保证红外辐射测温系统的准确性,必须获得一定温度范围内该材料表面的发射率。辐射温度计测温分为全辐射温度计、光谱辐射温度计、部分辐射温度计。全辐射温度计和光谱辐射温度计测温过程中涉及到“全发射率”和“光谱发射率”测定,“全发射率”常用辐射热平衡法和温度衰减测量法,“光谱...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。