技术编号：6117300
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体光学性质测试和磁性材料磁学性质测试，特别涉及磁性半导体磁光光谱、磁滞回线、居里温度和磁晶各向异性的测 量技术，具体地说，涉及一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量 系统背景技术稀磁半导体同时具有磁性和半导体的性质，既可应用于信息存储也可 应用于信息处理，是当前颇受重视的新型材料。由于赛曼效应的存在，外 磁场会引起半导体能带发生分裂，分裂后的能带不仅有不同的能量，还有 15不同的自旋取向，这时半导体的光吸收性质会发生相应的变化，它不仅有波...
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