技术编号:6117430
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本分明涉及,更具体地说,涉及使用多个照明和滤光器交替地扫描测量对象物的一侧和另一侧以能够去除在测量三维形状时产生的影子区域的。背景技术 下面,利用附有三维形状测量装置的图10进行说明。图10所示的三维形状测量装置包括投影装置10、成像装置20、控制装置30和位移测量装置40。下面,概略地说明各结构。投影装置10具有光栅(图中未示出),从投影装置10产生的光透过光栅投影在测量物O的一侧。在通过格纹图案的光被照射在测量物O的一侧时,由成像装置20对其进行摄像。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。