技术编号:6117493
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种在扫描电子显微镜中原位拉伸纳米线的装置及方法,利用扫描电子显微镜可以实时观测纳米线拉伸变形过程中的结构变化,揭示纳米线在拉伸载荷下的变形机制,脆韧转变方式,属于纳米材料力学性能原位测量领域。背景技术随着纳米技术的发展和纳米器件的开发,纳米线是纳米器件的基本单元,纳米线不仅具有良好的电、磁、光等性质,还要要求在器件中承载机械载荷,传递力,执行运动等。纳米线在外力作用下的力学响应方式和失效形式,例如脆性断裂或韧性断裂,最大断裂应变量,必将影响器件...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。