技术编号：6118692
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及测量技术，特别是涉及一种能够对UVA波段、UVB波段和UVC波段以及整个UV波段的紫外辐射进行测量的辐照计的测量技术。背景技术传统的紫外辐照计大多采用紫外增强型硅光二极管作为探测器，接受紫外辐射，进行测量；或者是在普通硅光二极管前面加一层荧光材料，由紫外线激发荧光材料发出可见光，再通过硅光二极管接受光信号，进行紫外辐射的测量。第一种方案，硅光二极管的光谱响应峰值在可见光区，在探测器前须加上多层的滤光片以减小(或者说是消除)可见光及红外光对测量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。