技术编号:6119071
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种柱面球面合一的多探头近场天线测量系统。适用于天线方向图的近场测量。技术背景天线方向图测量是天线研究、设计、制造过程中的重要环节。常用的测量方法有远场测量、紧缩场测量和近场测量。其中近场测量通常选择在室内的无回波反射的微波暗室内进行。由于室内近场测量需要的测试场地较小,同时较好地消除了环境的电波反射、杂波干扰,而且测试效率高、可以全天候工作,因此其方案越来越受到重视和普及。近场测量大致可分为平面近场、柱面近场、球面近场测量三种,根据有限的成...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。