技术编号:6119295
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种力学参量——M积分的无损测量方法。 背景技术在多缺陷材料损伤力学研究中,围绕缺陷的M积分,表征了该缺陷自相似扩展的能量释放率。作为一种材料断裂韧性参数,可广泛应用于航空航天器及大量工程结构设计中。其定义表达式如下M = (WxiIii - Gk]uk PCiHj yis (/', k, j = 1,2)( 1 )C其中w = OijE J1’ σ kJ, ε ^uk和叫分别为材料应变能密度、应力、应变、位移和围绕缺陷闭合积分路径C的外法向矢量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。