技术编号：6120239
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及在位式光电分析系统，尤其涉及一种用于在位式光电分析系统的内管置换装置。背景技术在位式光电分析系统，如应用吸收光谱技术(如半导体激光吸收光谱技术、差分光学吸收光谱技术、非分光红外吸收光谱技术等)的在位式气体分析系统、在位式粉尘分析系统等，可实时在位分析各种过程参数，无需对被分析过程介质进行采样，在现代工业、科研、环保等领域有着广泛的应用。该类分析系统的工作原理是从测量探头中光发射部件中的光源(或光源安装在远处，光源发出的光通过光纤引到测量探头)...
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