技术编号：6121793
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电源电压监视，尤其涉及CMOS集成电路(互补性 氧化金属半导体)中的电源电压监视。背景技术制造技术的进步可以实现在单一半导体集成电路上放置更大和 更密集的电路。尤其是电路实现为规则或蜂窝结构例如随机访问存储 器的情况。与高密度器件关联的主要问题在于测试。为了保持较高可 靠性，器件测试程序需要对集成电路中发生的可能故障提供良好的覆盖。一种用于对集成电路进行测试的技术被称作SIST架构(信号完 整性自检架构)。S1ST架构的目的在于对表征集成电路的电...
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