技术编号:6122505
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及对集成电路,具体地对包含必须受到保护以防止未授权 访问的秘密信息的集成电路的测试。背景技术可测试性和保密性对于集成电路强加了冲突的设计要求。可测试性要求每个电路元件应当被耦合至扫描链(scan chain),这样,电路元件 中预期的缺陷响应来自电路元件的信号而显现,这些电子元件响应来自 扫描链的测试激励信号被捕获至扫描链中。因此,通过采用扫描链施加 测试激励和移出测试响应,很容易测试集成电路。不幸的是,这也意味 着电路元件中由秘密信息影响的信号很...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。