技术编号:6122535
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测量晶体各面角度的设备,具体涉及一种用于承载晶体并调节晶体位置的测角头。在测量晶体各个面的角度时,需要一种测角头,用于承载晶体并调节晶体的位置。现有的测角头,包括底座、连接件、设于连接件上的X轴、Y轴、Z轴运动组件和平台,晶体是放在载体上在培养箱中进行培养的,测量时,将晶体和载体一起放在测角头顶部的平台上,由于测量是在极低温的条件下进行的,测角头的X轴、Y轴、Z轴调节机构往往会被冻结,导致无法将样品调到所需的位置;另一方面,为了使用的方便...
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