技术编号：6125285
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种测试装置，尤指一种对电子装置的内部元器件进行除 错或更新的扫描测试装置。背景技术先前一般基板测试的方式，大都由基板的表面，利用探针法来进行所谓「插入式电路测试(in-Circuit Test,简称ICE)」，以得知元器件的功能正常与否， 然而，随着计算机及各种信息产品的生产技术不断的推陈出新，加上现今电子 信息产品的设计导向均是以轻薄短'小为趋势，使得各种电子产品的内部以及电 路板上所装设的芯片及元器件的数量与密度均快速提高，导致安装各元...
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