技术编号:6125299
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试液晶显示器件液晶层厚度的方法。技术背景椭圆偏光法通过改变起偏器和检偏器的角度,得到不同的透过率 来测试液晶显示器件垂直方向的延迟量^,然后通过下式,即式(l), 求得液晶层厚度。其中aw为双折射系数,j为液晶层厚度,a是非常光折射率,a 是寻常光折射率。上述测试液晶层厚度的方法不需寻常光折射率w。,非常光折射率 ^的具体数值,而是直接通过它们差值aw来计算液晶层厚度,极大提高了液晶层厚度的测试效率,降低了测试的复杂程度,该方法可以 精确测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。