技术编号:6125761
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路,特别涉及集成电路芯片功能测试,具体是指一 种集成电路芯片测试平台的电源供电结构。背景技术随着社会的不断进步,科技的不断发展,各行各业中越来越多地使用集成电路,集成电 路工业已经成为现代电子工业中一个非常重要的领域。在集成电路芯片处于早期开发时期, 通常会设计芯片测试平台来对芯片进行各种测试和功能验证。对应于数字基带芯片的早期开 发过程中,也需要开发硬件测试和系统验证板来作为这样的芯片测试平台。对于这种硬件测试和系统验证板,供电电源的设计...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。