技术编号:6126358
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于服务超大功率半导体列阵使用微型外腔锁相的微型外腔形变测量技术和补偿技术,涉及超 大功率半导体列阵在安装适配选择基超模振荡的超短长度外腔,并振荡于基超模后,对残余热效应等引起 外腔长度变化的自动测量和补偿方式方法,涉及避免外腔形变导致非基超模起振,使超大功率半导体列阵 能够稳定地选择基超模振荡。背景技术半导体列阵量子效率高,输出波长范围涵盖570 nm至1600nm,工作寿命可达数百万小时,叠层列 阵可提供超高功率激光输出,在诸如工业、医学等很多领...
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