技术编号:6127106
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测量技术,特别涉及一种测量短碳纳米管直径和长度的光散射装置。背景技术自从1991年碳纳米管被发现后,其优越的力学、电学、热学等性能使其迅速成为纳米材料中的研究热点。目前,碳纳米管的直径与长度测量主要采用显微镜检测的方法,包括扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、隧道扫描显微镜(STM)等。这类方法的特点是非常直观准确,但存在设备昂贵、操作要求高、测量时间长等问题,并且由于显微镜的视野有限,因此无法进行...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。