技术编号:6128481
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及激光测量,特别涉及对光学波片位相延迟进行测量的方法和装置。背景技术 波片在涉及到偏振光的很多光学系统中都要使用,位相延迟是其最主要的技术指标,在应用中很大程度上影响着系统的性能,因此精确测量其位相延迟非常重要。当前常用的波片位相延迟测量方法测量精度一般在0.5度~1度左右,设备调整较复杂。有的需要高精度测角仪或标准四分之一波片;有的只适用于四分之一波片而不适用于半波片等的检测。此外现有测量方法不能溯源到自然基准,这些因素使其难以满足日益提高的测量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。