技术编号：6128567
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及进行三维测量的三维测量方法及其装置。背景技术 作为进行制品的三维测量的机构，由例如专利文献1中所记载的激光测量器。激光测量器，将激光束投射到被测定物表面并对反射光束进行受光，从而计算被测物表面的位置。在激光测量器中，由于仅能够对激光束触及的表面测定位置，因此进行如下工作即从多个方向进行测量，并且在重叠的部分使所测量的数据位置合并，从而进行合成。〔专利文献1〕特开平05-312526号公报。以往的激光测量的测量结果包含误差。为此，在进行对从多个方向...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。