技术编号：6129058
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种曝光方法，尤其涉及一种采用多元曝光参数公式进行X射线检测的方法。背景说明工业射线检测，其主要目的是检测工件中有无缺陷。当用x射线透照一个工件时，射线 透过工件后衰减在工件后面的x光胶片上就会留下潜影，经暗室处理后就会得到一张有一定 黑度(黑化程度)的x光底片，如果工件是厚度相等的，则整张x光底片的黑度也是均匀的， 但如果工件的厚度不相等则x光底片的黑度就会出现黑度差，当工件中有缺陷时，因缺陷与 工件的材质不同而相当于工件的厚度出现了差异，必然...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。