技术编号:6129820
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及实验与检测设备,特指一种椭圆偏振光分析装置,可用于高等院 校偏振光部分实验、波片相位延迟和光在介质界面上反射引起的相位移动量的测 量,波片快慢轴的标定等。技术背景椭圆偏振光分析是现代光学、光电子学、薄膜等技术中非常重要的一种方法。 现有的装置一般有三种形式一是手动调节通过刻度盘读出检偏器或波片转过的 角度;二是采用编码盘用步进电机或手动旋转,通过相应电路显示检偏器或波片 转过的角度;三是用圆光栅作为测角装置。以上三种方式都有不足之处,方法之 一太...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。