技术编号：6130423
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是涉及一种试验装置，且特别是涉及一种被称为性能板、探针 卡、插座板而使用于搭载被测量组件(DUT， Device Under Test)的被测量 组件搭载板，及连接被测量组件搭栽板与试验装置本体的连接单元。本案是与日本申请案特愿2002-317287号案(申请日2002年10月31 日)及特愿2002-338560 (申请日2002年11月21日)号案相关，且该些申请 案的内容亦并入本案中，作为本案记载的一部分。背景技术请首先参阅图14所示，是IC试...
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