技术编号：6131023
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉M大规模集成(VLSI)电路的设计自动化领域，更具体地 说，涉及根据广泛的模型化和非模型化错误进行测试以及后续诊断故障的 方法。背景技术在测试和后续诊断VLSI器件时经常遇到的问^有效测试模式的可 用性以及准确指出广泛的模型化和非模型化错误的根本原因的精确诊断方 法。VLSI器件及其关联的高电路性能以及复杂的半导体工艺的快速综合发 展加剧了以前的和引入的新类型的缺陷。此缺陷多样性连同有限数量的错 误模型，通常导致具有无效诊断分辨能力的大型而不适当的...
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