技术编号:6132228
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于表面和波阵面计量的方法和装置;更具体,涉及用于测量相对于机器运动轴和测量设备的表面位置的方法;最具体地,涉及用于集成计量系统的几何形状校准的方法,其中所述计量系统包括多轴CNC机械定位装置和嵌入式波阵面测量量具。背景技术 在单点扫描测量系统的应用和加工中,实现精确定位是极为重要的。敏感方向上的定位误差转换为一对一的切削/测量误差。结果,人们将大量的努力投入到精确定位系统的制造、用于测量该精确度的方法、以及用于补偿诸如轴线不垂直等运动偏离的装置...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。