技术编号:6134252
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及检测电子元器件轮廓上凹凸的。背景技术 在检查电容器等电子元器件过程中需检查测量各种外部凹凸,尤其是所谓突角。毛边等的凹凸(下面,本说明书简称为突角)。突角可能发生在任何部位,但借助多台摄像机或一台摄像机在多个方向上进行摄像,就能对轮廓上的所有凹凸进行检测。特别是通过配置摄像机使其光轴对准突角发生频度高的部位作为轮廓检测的方向,就能检测轮廓上的凹凸。参照图8至附图说明图10来说明已有技术以电子元器件突角作为轮廓上凹凸进行检测的外观检查方法。图8表示...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。