技术编号:6134312
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子元件的检验。当半导体电子元件离开生产线时,这时它们仍然被一起连接在一个晶片上和/或成为组件的状态,组件包装或没包装,很可能呈带状布置,半导体电子元件将由一台检验机进行检验。检验机包括分别布置的电极,以便与电子元件的导电区域(范围)相接触。通过机器的检验装置所配置的接口信号被加在这些电极上,并且被它们所接收。这台检验机包括一套电子模块和软件程序,其通常的功能就是比较每个被测值与一个参考值或区间(或有效值范围);以便一般性的判定这个元件是完好的还...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。