技术编号：6134885
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学辐射定标测量仪器，尤其涉及一种宽光谱光电测试系统，可以实现从紫外光谱到红外光谱的光谱响应度测量和偏置电压在O 15V的伏安特性测量。背景技术光谱响应、伏安特性是光电探测器的主要性能参数，通过测试这些参数，对实际的光电系统设计以及光电探测器器件制备工艺的提高与改进等都具有十分重要的意义。市面上现有的光电探测器测试系统，例如Newport等公司的光电探测器测试仪， 包括宽光谱光源、单色仪、滤光片轮、暗箱、数据采集放大电路、电机驱动电路和计算机，计...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。