技术编号:6135033
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。总的来说本发明涉及集成电路设计领域,尤其涉及用于定制和监视诸如多个IEEE1149.1标准接合测试接入组(JTAG)接口之类的多个接口,并且实现增强型容错和故障隔离功能的装置和方法。背景技术 被称为连接测试动作组(JTAG)接口IEEE标准1149.1的芯片级及更高级的标准接口已被开发以使外部接入到达集成电路装置变得更加容易。提供了具有与JTAG兼容的集成电路装置的标准测试接入端口(TAP),用来允许执行边界扫描操作以响应外部TAP控制器通过装置的TAP端...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。