技术编号:6135041
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及单张薄膜的缺陷检查装置。详细地说是涉及易于高精度地在整个薄膜面上光学地检查有翘曲等变形的单张薄膜的缺陷的装置。背景技术 偏光板、相位差板等的光学薄膜等,作为连续薄膜或单张薄膜而产品化,并以各自的状态进行缺陷检查。公知有在光学薄膜等透明薄膜上照射光,并接受其透过光,从而检查薄膜的缺陷的方法(参照例如专利文献1、专利文献2)。在利用辊一边输送薄膜一边检查缺陷的方法中,检测树脂板那样的硬的片状物时,或利用辊将连续的薄膜保持张紧状态而检查时,是没有问题的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。