技术编号:6136331
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属光电检测,更进一步属于莫尔轮廓测量术。现有莫尔轮廓测量术分为阴影莫尔法和投影莫尔法,阴影莫尔法具有结构简单、实用等特点,可根据测量对象的不同采取不同参数的结构系统,它只需要一个光栅,但要求被测物与光栅靠近;投影莫尔法需两个光栅,一个为投影光栅,一个为解调光栅。此法的特点是把投影光栅投影到物体上,因此可用小光栅测大物体,被测物与测量装置之间有较自由的工作距离。无论是阴影莫尔法还是投影莫尔法最后形成的莫尔轮廓分布都可写成I(x,y)=A(x,y)+B(...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。