技术编号：6138655
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。基于Zeeman-双折射双频激光器的光回溃测距仪属于激光测距。背景技术 当激光器输出光被外界物体反射或散射后，部分光将返回激光器谐振腔内与腔内光束相混合而引起激光器的输出光强的变化，该现象被称作光回溃现象(self-mixing interference)或光回溃(optical feedback)。King于1963年首次报道了光回溃现象。光回溃系统结构简单紧凑，一般仅由一个激光器和待测物体组成。光回溃信号的两个基本特征为1.外部反射镜或散射物每移动半个...
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