技术编号：6143081
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明的实施例一般涉及扫描技术。扭旦 冃私扫描设计在用于数字电路的面向测试的设计(DFT)中使用。扫描设 计提供测试接入以改进待测器件(DUT)的可测试性并降低测试成本。在 现有技术图1中描述了扫描设计的示例。扫描设计的目的是提供测试接入 以增加组合电路的可测试性。扫描设计可用扫描寄存器替换普通内部寄存 器。扫描寄存器向普通寄存器添加被成为扫描路径的信号路径，从而可直 接从外部访问该普通寄存器。如果扫描启用(SE)信号被设置成例如逻辑 高信号(可称为1)，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。