技术编号:6143180
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。材料的成像本发明涉及用于探测、成像以及在优选实施方式中表征三维空间中的 材料的方法和仪器。本发明特别涉及利用高能辐射,例如X-射线和Y-射线来扫描物体的仪 器和方法,其中期望得到关于它们内部内容和/成分的信息。本发明特别涉 及根据行扫描原理工作的仪器和方法,其中使三维物体移动通过扫描区, 且成像信息被收集。这些原理广泛使用在例如安全行业中以扫描期望得到 关于它们的内部内容的信息的物体,但是也可用在其他领域中,例如没有 限制地,医疗成像、用于质量控制目的或确...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。