技术编号:6143183
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试装置及电子器件。本发明尤其涉及具有高速动作的接 口电路的电子器件,以及对该电子器件进行测试的测试装置。本申请与下 列日本申请有关。对于允许以文献的参照方式编入的指定国,下述申请记 载的内容编入本申请中,作为本申请的一部分。l.日本专利申请2007-089691 申请日2007年03月29日背景技术对于对半导体电路等器件的测试问题,考虑使用频率与电子器件的实 际动作速度相对应的测试信号进行测试。在这种情况下,电子器件测试装 置将频率与电子器件的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。