技术编号:6143235
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及辐射探测器领域,并且更具体的涉及包含闪烁体的辐射探 测器。背景技术EP0 642 264 Al公开了用于探测X射线图像的具有半导体图像探测阵 列的图像探测设备,其中由于仿体图像而引起的干扰被充分地减小。根据 这个参考,辐射传感器元件的半导体材料中的电荷捕获引起的延迟电荷转 移导致了这样的干扰。根据所述参考的探测设备包括将辐射敏感元件和读 出线集成到图像探测阵列,其中辐射敏感元件将入射的辐射转换为电荷, 读出线将该电荷转移至读出电路,读出电路布置为...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。