技术编号：6143381
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及半导体集成电路的测试，尤其涉及包括集成测试电路(如BIST (内建自测)电路)的集成电路。背景技术测量半导体集成电路(IC)的一种常见测试技术是扫描测试技术。这主要涉及把测试模式(称为"矢量")发送到器件封装的引脚，并且根据器件的时钟速度来监测特定时间的输出响应。使用一组测试矢量能确定被测器件的性能。这些矢量被设计成能检测器件的生产瑕疵。 ..使用自动测试模式发生器(ATPG)来生成矢量，并且为固定故障、转换故障和路径延迟故障提供测试模式。通...
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