技术编号:6144130
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。用于鉴别气体的化学组成的方法及设备 相关申请交叉参考本非临时专利申请要求2007年8月7日提交的美国临时专利申请第60/963, 974号与2008年1月11日提交的美国临时专利申请第61/020,457号的优先权,该两个申请案的全部内容出于所有目的以引用方式并入本文中。 背景 集成电路或〃 IC〃已自少数在单一硅晶片上制造的互连器件发展成数百万规模的器件。当前的IC提供远超过最初所想象的效能与复杂性。为了实现复杂性与电路密度(即能够封装于给定芯片面积上的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。