技术编号:6144389
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及利用周期图案照明的成像测量系统,其也称为结构化照明或波纹 (Moire)技术,并且具体地说,涉及提高这种系统的吞吐量(throughput)。背景技术利用周期图案的成像和测量系统通常使用正弦曲线周期照明来提高成像分辨率, 以区分焦平面处的图像信息并测量物体的高度。这些技术具有以下优点与标准共焦成像 显微镜或标准三角高度测量系统相比,发光效率更好、更快、提供了更好的分辨率。例如, 可参见以下文献Rainer Heintzmann, Handbook...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。