技术编号：6145679
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种发光二极管的测试方法及其测试工具，特别是涉及一种对存储装置的发光二极管的测试方法及其测试工具。 背景技术随着信息的快速且大量的成长，使得存储装置的容量也逐步的加大及加快。为了 能让使用者明显的辨认存储装置是否在存取中， 一般而言会在存储装置上会设置有一发光 二极管。当存储装置有数据被写入/读取时，存储装置会驱动发光二极管。在数据的写入 过程中，发光二极管会根据写入的频率/时间影响其发光的频率与时间。 对于生产厂商而言，为了测试存储装置的发光...
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