技术编号:6145768
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型有关一种探针测试装置,尤指其可控制探针进行上升偏转及下降侦测,而可加大操作空间及防止探针及待测电路板受损。早期的此类探针装置均使用斜角探测,也即将待测电路板设置在一斜置平台的表面,然后驱动探针位移以进行侦测,但此种传统探针装置对于不同位置难以进行精确探测。为此,有使用可旋转的探针,使已定位的探针可垂直旋转下降以触接及探险测电路板。但其缺点则是,直接旋转的探针与待测电路板间的空间非常狭小,使待测电路板不容易放入,此为其缺点之一;再者,由于在短行程进...
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