技术编号:6146069
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及干涉仪,特别是一种测试同步辐射源空间相干性的X射线干涉仪,这种干涉仪可以用来测试同步辐射源和微聚焦X射线管空间相干性等。背景技术X射线本质和可见光一样都是电磁辐射,X射线也具有波粒二象性,其微粒特性包括光电效应、非相干以及相干散射、气体电离等。其波动性包括相速度、位相、反射、折射、衍射、干涉和偏振等。自从X射线被发现以来,人们一直利用这些特性,从事各种有益于人类的活动,例如家喻户晓的XCT成像技术。X射线短波长的性质,使其在物质中的折射率是一...
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