技术编号:6147846
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种信号与背景波长同时检测的元素光谱分析仪。背景技术在原子光谱分析、应用光谱学、计量及检测等领域,经常需要用到对样品的元素及其 含量进行分析。传统的光谱分析方法有原子吸收光谱法、电感耦合等离子体-原子发射光 谱法、电感耦合等离子体-质谱分析法,传统的分析方法需要对样品进行前处理,因而无法 实现对样品的快速分析。随着技术的发展,现在已出现了一种激光诱导击穿光谱法,该方法是将脉冲高能激光 聚焦到样品的表面,在样品的表面产生高温等离子体,然后对等离子体...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。