一种液晶空间光调制器多参数的干涉式双成像测量装置的制作方法技术资料下载

技术编号:6150167

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本发明涉及光电测试。技术背景液晶空间光调制器可在电驱动信号控制下改变空间上光分布的相位、偏振 态、振幅(或强度)乃至波长,或是非相干光到相干光的转换等。相位和振幅的 调制在光学信息处理中具有非常重要的作用,因此液晶空间光调制器在波前校 正、大气成像、光学滤波和光束整形等方面具有重要的应用价值。液晶空间光 调制器特性参数的测试(特性参数主要包括相位调制特性、振幅调制特性、 相位不均匀性和时间响应特性等)是掌握该器件性能的关键,目前的测量方法主要采用传统干涉方...
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