技术编号：6150170
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种恒温样品池。 背景技术近红外光谱测量仪器普遍用于工业流程在线检测过程，但是由于近红外测 量时受样品温度影响比较大，测量的数据不稳定。 发明内容本发明是为了解决近红外测量过程由于样品温度的变化导致测量数据不 稳定的问题，从而提供一种用于近红外测量的恒温样品池。用于近红外测量的恒温样品池，它包括金属外壳、金属内壳、第一半导体 热电致冷器、第二半导体热电致冷器、第三半导体热电致冷器和隔热材料，金 属内壳的前表面和后表面各开有一个通光孔，所述两个通光...
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