结构光条纹采样数据深度图像的双四导六插值方法技术资料下载

技术编号:6150178

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本发明涉及一种结构光条纹采样数据深度图像的插值方法。 背景技术在非接触三维测量技术中,光学三维测量技术是获取物体三维信息最有效的手段 之一。目前视觉三维测量技术的重点发展方向包括结构光法、立体图像法、莫尔法、全息法、 激光雷达法等。近年来,结构光法三维信息测量技术取得了长足的进步,显示了其在分辨率及测 量速度上的优势,已经成为三维测量领域中非常重要的研究方向之一。用结构光法测量并重建空间曲面时,其重建精度主要受到条纹采样宽度的影响。 理论上讲,结构光法中的...
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