技术编号:6151037
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种测量物质介电常数的方法,特别是一种利用单极子天线在介质中的发射特性来测定物质介电常数的方法。 背景技术 物质的介电常数作为物质一个基本的电磁学参数,一直需要被更精确更方便地测量。而单极子天线在介质中的发射性质与其介电常数有着密切的关系。单极子天线从构造上来说为对称振子的一半,天线从基部进行激励,它的辐射波瓣图与自由空间中的对称振子的波瓣图相同。当天线的长度与微波的波长成一定关系时,它的发射效率最大,也就是发射功率达到最大,反射功率达到最...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。