技术编号：6151193
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及延迟故障测试，特别涉及一种面向应用的 FP G A的延迟故障测试方法及系统。背景技术FPGA ( Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)具有应用设计开发周期短、可重配置等优点。目前，FPGA不仅被用于原 型设计的验证，同时也在众多应用领域的电子系统中被用于实现部分 甚至主要功能。而其中某些应用领域，如医疗设备、航空电子等对系 统的可靠性有较高的要求，这就使得FPGA的测试对于这些应用具有 特殊的重要性。通常...
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