技术编号:6151670
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及辐射检测技术,具体涉及辐射扫描检查系统探测器信号处理,特别是X 射线闪烁探测器的余辉矫正方法。背景技术闪烁探测器是一种常用电离辐射探测器件,主要由闪烁体和光电探测器件如光电 二极管、光电倍增管等组成。闪烁体吸收电离辐射如X射线的能量后发出闪烁光,光电探测 器件将闪烁光信号转换成电信号。闪烁探测器大量应用在辐射扫描检查系统如X射线集装 箱扫描检查系统中,此时辐射源是由电子直线加速器产生的脉冲X射线。工作时由脉冲X射 线和探测器阵列组成一个扇形检测面...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。