技术编号:6153013
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于实现链式测试的方法和装置,特别涉及用于实现链式测试支持联合测试行动小组(JTAG )标准的器件的方法和装置及连接电路。技术背景随着芯片电路的大规模集成化、体积小型化,以及芯片表面封装技术 (SMT )和电路板组装技术的进一步发展,联合测试行动小组(JTAG )为了 克服传统测试技术面临的困难,提高电路和系统的可测试性,于1987年提 出了一种新的电路板测试方法一一边界扫描测试,并于1990年被IEEE接 纳,形成了 IEEE1149. 1标准...
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